Niveau: Mittelstufe
Berufsfunktion: Analyst / Wissenschaftler / Ingenieur
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Im Zeitalter von Big Data und komplexer Fertigung fallen oft enorme Mengen an Prozessdaten an, die regelmäßig überwacht und analysiert werden müssen, um die Qualität zu erhalten oder zu verbessern. Für Analysten kann es schwierig sein, die Anforderungen der Datenüberwachung bei begrenzter Zeit und begrenzten Ressourcen zu erfüllen. JMP bietet verschiedene Tools, mit denen Analysten den Umfang ihrer Prozessüberwachung schnell und effizient erweitern können. Die Prozess-Screening-Plattform in JMP ermöglicht es Anwendern, eine große Anzahl von Prozessen einfach auf Stabilität und Leistungsfähigkeit zu prüfen und sich schnell auf Prozesse zu konzentrieren, die verbessert werden müssen. Das spart Zeit, reduziert den Arbeitsaufwand und verbessert die Qualität. Die Plattform berechnet zunächst einen zusammenfassenden Bericht basierend auf Regelkarten-, Leistungsfähigkeits- und Stabilitätsberechnungen und erstellt mehrere Diagramme zur schnellen visuellen Beurteilung des Zustands vieler Prozesse. Basierend auf diesen ersten Ergebnissen können die Prozesse, die Aufmerksamkeit erfordern, einfach ausgewählt und mithilfe des Kontrollkarten-Generators und der Prozessfähigkeitsplattformen eingehender untersucht werden. Die Reaktions-Screening-Plattform in JMP ermöglicht es Anwendern, zahlreiche Prozessmessungen auf die Auswirkungen von Prozessänderungen zu testen und Anpassungen vorzunehmen, um falsche Signifikanzangaben zu vermeiden. Die Plattform erstellt zunächst Ergebnisse und zusammenfassende Statistiken in Datentabellen sowie mehrere leicht interpretierbare Diagramme in einem Bericht, um die weitere Untersuchung wichtiger Ergebnisse zu ermöglichen. Dieser Vortrag zeigt anhand von Fallstudien, wie sich mit JMP zahlreiche Prozesse überwachen und analysieren lassen, um schnelle und effiziente Verbesserungen zu erzielen.
