詹保羅·波爾西內利
高級資料探勘工程師
抽象的:
在矽晶圓製造廠中，每個矽片都會被收集數個電氣和功能測量數據。
因此，在大量數據中識別出哪些變數真正影響了晶圓產量（最重要的關鍵績效指標）非常重要。通常使用具有線性迴歸擬合的散佈圖來實現這一點。
無論如何，只有在分佈正常、沒有異常值和資料雜訊的情況下，該技術才能發揮作用。所有這些因素都可能掩蓋產量損失和線上問題之間的真正關係。
