Gianpaolo Polsinelli
INGENIERO SENIOR DE MINERÍA DE DATOS
Abstracto:
En una Silicon-Fab se recogen varias medidas eléctricas y funcionales para cada oblea de silicio.
Por lo tanto, es fundamental identificar, en una gran cantidad de datos, qué variables modulan realmente el rendimiento de la oblea, el indicador clave de rendimiento más importante. Para ello, se suele utilizar un diagrama de dispersión con un ajuste de regresión lineal.
De todos modos, esta técnica solo funciona bien si las distribuciones son normales, en ausencia de valores atípicos y datos ruidosos. Todos estos factores pueden oscurecer la verdadera relación entre la pérdida de rendimiento y los problemas en línea.
