Gianpaolo Polsinelli
INGÉNIEUR PRINCIPAL EN EXPLOSION DE DONNÉES
Abstrait:
Dans une Silicon-Fab, plusieurs mesures électriques et fonctionnelles sont collectées pour chaque plaquette de silicium.
Il est donc essentiel d'identifier, dans une masse importante de données, les variables qui modulent réellement le rendement des plaquettes, l'indicateur clé de performance le plus important. On utilise généralement pour cela un nuage de points avec un ajustement de régression linéaire.
Quoi qu'il en soit, cette technique ne fonctionne bien que si les distributions sont normales, en l'absence de valeurs aberrantes et de données bruitées. Tous ces facteurs peuvent obscurcir la relation entre la perte de rendement et les problèmes de conformité.
