일괄 제조 공정 데이터 시각화: 구성 가능한 JMP® 스크립팅... 일괄 제조 공정 데이터 시각화: 경과 시간 오버레이 플롯을 생성하기 위한 구성 가능한 JMP® 스크립팅 언어 애플리케이션
Gwen Tennant, 프로세스 엔지니어, Alkermes Inc.
일괄 제조의 경우 여러 일괄 처리의 공정 제어 시스템 데이터를 동시에 검토하는 기능은 공정 오류를 해결하고 공정 변경의 영향을 검토하는 데 중요합니다. 제조 지원 인력은 종종 일괄 처리 데이터를 시각화하기 위해 간단한 시계열 오버레이 플롯을 생성하기로 선택합니다. 이러한 차트는 요약 통계나 수학적 모델에 의해 가려질 수 있는 미묘한 차이를 보여줄 수 있기 때문입니다. 다중 일괄 처리 오버레이 플롯을 만들려면 개별 SCADA(Supervisory Control and Data Acquisition) 데이터 타임스탬프를 먼저 제조 공정의 고정 참조점을 기준으로 경과 시간으로 변환해야 합니다. 이러한 데이터 조작을 수동으로 수행하는 것은 대용량 데이터 세트로 작업할 때 번거롭고 시간이 많이 걸립니다. 다행히도 JMP 스크립팅 언어를 사용하면 데이터 히스토리언과 직접 인터페이스하고 구성 가능한 다중 일괄 처리 오버레이 플롯을 자동으로 생성하는 사용자 지정 애플리케이션을 개발할 수 있었습니다. 이 민첩한 도구는 데이터 시각화 기능을 획기적으로 개선하고 차트 생성 시간을 단 몇 초로 단축했습니다.
