Nivel: Intermedio
Stefan Nikles, ingeniero de productos, Analog Devices
Existen varias plataformas JMP para visualizar espacios de parámetros: Gráfico de contorno, Gráfico de superposición, Gráfico de superficie y Gráfico de dispersión 3D, por nombrar algunas. Estas plataformas funcionan bien al explorar datos que contienen una sola variable dependiente en función de dos variables independientes, pero resultan más difíciles cuando se necesitan explorar datos en función de tres variables independientes (por ejemplo, un DOE de tres factores). Los usuarios suelen tener que presentar múltiples gráficos para todos los valores de uno o más parámetros, lo que dificulta discernir relaciones importantes. Sin embargo, en muchos casos, la principal preocupación es simplemente saber dónde la variable dependiente supera un umbral específico. Por ejemplo, ¿en qué condiciones la relación señal-ruido supera la unidad? ¿O en qué punto del espacio de parámetros el valor p es menor que 0,05? En esta presentación, se describe un método para calcular un único nivel de contorno a partir de múltiples gráficos y superponerlos en uno solo. Este método emplea un script JSL con interfaz gráfica para calcular los contornos, que luego se grafican mediante la función de scripting gráfico de la plataforma bivariada. El uso de este método fue esencial en la validación de una nueva técnica de medición para nuestros dispositivos.
