Livello: Intermedio
Stefan Nikles, ingegnere di prodotto, Analog Devices
Esistono diverse piattaforme JMP per visualizzare spazi di parametri: Contour Plot, Overlay Plot, Surface Plot e Scatterplot 3D, per citarne alcune. Funzionano bene quando si esplorano dati contenenti una singola variabile dipendente come funzione di due variabili indipendenti, ma è più difficile quando si devono esplorare dati come funzione di tre variabili indipendenti (ad esempio, un DOE a tre fattori). Gli utenti devono comunemente ricorrere alla presentazione di più grafici per tutti i valori di uno o più parametri, rendendo difficile discernere relazioni importanti. In molti casi, tuttavia, la preoccupazione principale è semplicemente sapere dove la variabile dipendente supera una soglia specifica. Ad esempio, in quali condizioni il rapporto segnale/rumore supera l'unità? O in quale punto dello spazio dei parametri il valore p è inferiore a 0,05? In questa presentazione, viene descritto un metodo per calcolare un singolo livello di contorno da più grafici e sovrapporli ciascuno in un singolo grafico. Questo metodo impiega uno script JSL abilitato per GUI per calcolare i contorni, che vengono poi tracciati utilizzando la funzionalità Graphics Scripting all'interno della Bivariate Platform. L'uso di questo metodo è stato essenziale nella convalida di una nuova tecnica di misurazione per i nostri dispositivi.
