Niveau: Mittelstufe
Stefan Nikles, Produktingenieur, Analog Devices
Es gibt verschiedene JMP-Plattformen zur Visualisierung von Parameterräumen: Konturdiagramm, Overlay-Diagramm, Oberflächendiagramm und 3D-Streudiagramm, um nur einige zu nennen. Diese eignen sich gut für die Untersuchung von Daten mit einer einzelnen abhängigen Variable als Funktion zweier unabhängiger Variablen. Schwieriger wird es jedoch, Daten als Funktion dreier unabhängiger Variablen zu untersuchen (z. B. ein dreifaktorielles DOE). Benutzer müssen häufig mehrere Diagramme für alle Werte eines oder mehrerer Parameter darstellen, was das Erkennen wichtiger Zusammenhänge erschwert. Oft geht es jedoch vor allem darum, herauszufinden, wo die abhängige Variable einen bestimmten Schwellenwert überschreitet. Beispielsweise: Unter welchen Bedingungen überschreitet das Signal-Rausch-Verhältnis den Wert 1? Oder wo im Parameterraum liegt der p-Wert unter 0,05? In dieser Präsentation wird eine Methode beschrieben, mit der aus mehreren Diagrammen eine einzelne Konturebene berechnet und in einem einzigen Diagramm überlagert wird. Diese Methode verwendet ein GUI-fähiges JSL-Skript zur Berechnung der Konturen, die anschließend mithilfe der Grafikskriptfunktion der Bivariate-Plattform dargestellt werden. Der Einsatz dieser Methode war für die Validierung einer neuen Messtechnik für unsere Geräte von entscheidender Bedeutung.
