Niveau : Intermédiaire
Stefan Nikles, ingénieur produit, Analog Devices
Plusieurs plateformes JMP permettent de visualiser les espaces de paramètres : les courbes de niveau, les courbes de superposition, les courbes de surface et les nuages de points 3D, pour n'en citer que quelques-unes. Ces outils sont efficaces pour l'exploration de données contenant une seule variable dépendante en fonction de deux variables indépendantes, mais plus complexes pour l'exploration de données en fonction de trois variables indépendantes (par exemple, un plan d'expériences à trois facteurs). Les utilisateurs doivent généralement présenter plusieurs courbes pour toutes les valeurs d'un ou plusieurs paramètres, ce qui complique l'identification des relations importantes. Cependant, dans de nombreux cas, la principale préoccupation est simplement de savoir où la variable dépendante dépasse un seuil spécifique. Par exemple, dans quelles conditions le rapport signal/bruit dépasse-t-il l'unité ? Ou à quel endroit de l'espace des paramètres la valeur p est-elle inférieure à 0,05 ? Cette présentation décrit une méthode permettant de calculer un niveau de contour unique à partir de plusieurs courbes et de les superposer en une seule. Cette méthode utilise un script JSL avec interface graphique pour calculer les courbes, qui sont ensuite tracées à l'aide de la fonctionnalité de script graphique de la plateforme bivariée. L’utilisation de cette méthode a été essentielle dans la validation d’une nouvelle technique de mesure pour nos appareils.
