Sue Walsh , Statistikerin für technischen Support, SAS
Analysten in vielen Anwendungsbereichen haben oft eine Antwortvariable mit nur zwei möglichen Ausprägungen, von denen eine das gewünschte Ergebnis darstellt. Mithilfe der binären logistischen Regression kann der Analyst die Wahrscheinlichkeit des gewünschten Ergebnisses vorhersagen, die am stärksten mit diesen Ergebnissen verbundenen Eingabevariablen bestimmen und Quotenverhältnisse ermitteln, die den Einfluss auf das Ergebnis messen. Diese Präsentation bietet eine Einführung in die Analyse dieser Art mithilfe der binären logistischen Regression in den JMP-Plattformen „Fit Y by X“ und „Fit Model“. Die Interpretation der Ergebnisse, einschließlich p-Werten, Quotenverhältnissen, grafischer Darstellungen und Anpassungsgütestatistiken, wird erläutert.
