科琳·貝爾熱斯
模擬和感測器業務品質組六西格瑪黑帶，博士
恩智浦半導體 SAS
抽象的：
Jmp PRO降解分析平台可用於不同的用途。我們想介紹汽車半導體測試中的兩個案例研究。
在第一個例子中，在客戶現場測試功率 MOS，並透過電氣測量在很短的時間內監控十個點的組件行為。為了幫助我們的客戶了解部分mos元件的故障原因，我們對未失效部件和失效部件進行了這些測量的十點曲線比較：用於此的jmp工具是退化分析平台。
同一平台的另一個案例研究是對高溫工作壽命測試 (HTOL) 值的漂移分析。該測試最初進行了 2000 小時，但後來要求測試持續時間約為 4000 小時。平台退化分析可以避免額外的昂貴測試：它在 1200 次測試中發現了幾組曲線形狀，並成功預測了它們在 4000 小時時的漂移可能優於 10%，即最大可接受值。
