Corinne Bergès
Cinturón negro Six Sigma para el grupo de calidad empresarial de sensores y analógicos, doctorado
NXP Semiconductor SAS
Abstracto:
La plataforma de análisis de degradación Jmp PRO puede utilizarse para diversos fines. Presentamos dos casos prácticos de pruebas de semiconductores automotrices.
En un primer ejemplo, se prueban los MOS de potencia en las instalaciones del cliente y las mediciones eléctricas monitorean el comportamiento de los componentes en diez puntos en un período muy breve. Para ayudar a nuestro cliente a comprender la causa de la avería de una parte de los componentes del MOS, se compara la curva de diez puntos de estas mediciones entre las piezas sin fallar y las que sí lo hicieron. La herramienta jmp utilizada para ello fue la plataforma de análisis de degradación.
Otro caso práctico para la misma plataforma fue un análisis de la deriva en los valores de la Prueba de Vida Útil a Alta Temperatura (HTOL). La prueba se realizó inicialmente durante 2000 horas, pero posteriormente se solicitó una duración de aproximadamente 4000 horas. El análisis de degradación de la plataforma permitió evitar una costosa prueba adicional: se identificaron varias familias de formas de curva entre las 1200 pruebas y se logró predecir para cuáles la deriva a 4000 horas probablemente sería superior al 10%, el valor máximo admisible.
