科琳·贝尔热斯
模拟和传感器业务质量组六西格玛黑带，博士
恩智浦半导体 SAS
抽象的：
Jmp PRO 退化分析平台可用于不同的目的。我们想介绍汽车半导体测试中的两个案例研究。
在第一个示例中，在客户现场测试功率 mos，并在很短的时间内通过电气测量来监控十个点的组件行为。为了帮助我们的客户了解部分 mos 组件的故障原因，我们在未发生故障的部件和发生故障的部件之间比较了这些测量的十点曲线：用于此目的的 jmp 工具是退化分析平台。
同一平台的另一个案例研究是对高温工作寿命测试 (HTOL) 值的漂移分析。测试最初在 2000 小时内进行，但后来要求测试持续时间约为 4000 小时。平台退化分析可以避免额外的昂贵测试：它在 1200 次测试中发现了几组曲线形状，并成功预测了其中哪些曲线形状在 4000 小时的漂移可能优于 10%，即最大可接受值。
