코린 베르제스
아날로그 및 센서 비즈니스 품질 그룹을 위한 Six Sigma Black Belt, 박사
NXP 반도체 SAS
추상적인:
Jmp PRO 저하 분석 플랫폼은 다양한 목적으로 사용할 수 있습니다. 자동차 반도체 테스트에서 두 가지 사례 연구를 제시하고자 합니다.
첫 번째 예에서, 전력 mos는 고객 현장에서 테스트되고 전기 측정은 매우 짧은 기간 동안 10개 지점에서 구성 요소 동작을 모니터링합니다. 고객이 mos 구성 요소의 일부에 대한 고장 원인을 이해하도록 돕기 위해 이러한 측정의 10개 지점 곡선을 고장이 나지 않은 부분과 고장난 부분 사이에서 비교합니다. 이를 위해 사용된 jmp 도구는 저하 분석 플랫폼이었습니다.
동일한 플랫폼에 대한 또 다른 사례 연구는 고온 작동 수명 시험(HTOL) 값에 대한 드리프트 분석이었습니다. 이 테스트는 처음에는 2000시간 동안 수행되었지만 나중에 요청된 것은 약 4000시간의 테스트 기간이었습니다. 플랫폼 저하 분석을 통해 추가 비용이 많이 드는 테스트를 피할 수 있었습니다. 1200개의 테스트 중에서 여러 곡선 모양 패밀리를 발견하여 4000시간의 드리프트가 최대 허용 값인 10%에서 우수할 가능성이 있음을 예측하는 데 성공했습니다.
