Corinne Bergès
Cintura nera Six Sigma per il gruppo di qualità aziendale di sensori e analogici, PhD
Semiconduttore NXP SAS
Astratto:
La piattaforma di analisi della degradazione Jmp PRO può essere utilizzata per diversi scopi. Vorremmo presentare due casi di studio nel test dei semiconduttori per l'automotive.
In un primo esempio, i power mos vengono testati presso il sito del cliente e le misure elettriche monitorano il comportamento dei componenti in dieci punti in un periodo di tempo molto breve. Per aiutare il nostro cliente a comprendere la causa del breakdownoot di una parte dei componenti mos, la curva a dieci punti di queste misure viene confrontata tra le parti non guaste e quelle guaste: lo strumento jmp utilizzato per questo è stata la piattaforma di analisi della degradazione.
Un altro caso di studio per la stessa piattaforma è stata un'analisi di deriva sui valori del test di vita operativa ad alta temperatura (HTOL). Il test è stato inizialmente eseguito per 2000 ore, ma una richiesta successiva era di circa 4000 ore di durata del test. L'analisi di degradazione della piattaforma ha permesso di evitare un test aggiuntivo costoso: ha trovato diverse famiglie di forma della curva tra i 1200 test ed è riuscita a prevedere quelle per cui la deriva a 4000 ore era probabilmente superiore al 10%, valore massimo ammissibile.
