Corinne Bergès
Six Sigma Black Belt für Analog & Sensor Business Quality Group, PhD
NXP Semiconductor SAS
Abstrakt:
Die Degradationsanalyseplattform Jmp PRO kann für verschiedene Zwecke eingesetzt werden. Wir möchten Ihnen zwei Fallstudien aus dem Automobil-Halbleitertest vorstellen.
In einem ersten Beispiel werden Leistungs-MOS-Systeme beim Kunden getestet. Elektrische Messungen überwachen das Komponentenverhalten an zehn Punkten in kürzester Zeit. Um unserem Kunden zu helfen, die Ausfallursache eines Teils der MOS-Komponenten zu verstehen, werden Zehn-Punkte-Kurven dieser Messungen zwischen den nicht ausgefallenen und den ausgefallenen Teilen verglichen. Das hierfür verwendete JMP-Tool war die Degradationsanalyse-Plattform.
Eine weitere Fallstudie für dieselbe Plattform war eine Driftanalyse der Werte des Hochtemperatur-Betriebslebensdauertests (HTOL). Der Test wurde zunächst über 2000 Stunden durchgeführt, später wurde jedoch eine Testdauer von etwa 4000 Stunden angestrebt. Durch die Analyse der Plattformdegradation konnte ein zusätzlicher kostspieliger Test vermieden werden: Sie identifizierte mehrere Kurvenscharen unter den 1200 Tests und konnte diejenigen vorhersagen, bei denen die Drift nach 4000 Stunden wahrscheinlich um 10 % höher ausfiel als der maximal zulässige Wert.
