Corinne Bergès
Ceinture noire Six Sigma pour le groupe Qualité des activités analogiques et des capteurs, PhD
NXP Semiconductor SAS
Abstrait:
La plateforme d'analyse de dégradation Jmp PRO peut être utilisée à diverses fins. Nous présentons deux études de cas sur les tests de semi-conducteurs automobiles.
Dans un premier exemple, des transistors MOS de puissance sont testés sur le site du client et des mesures électriques surveillent le comportement des composants en dix points sur une période très courte. Pour aider notre client à comprendre la cause de la panne d'un composant MOS, la courbe en dix points de ces mesures est comparée entre les composants non défaillants et les composants défaillants : l'outil JMP utilisé à cette fin était la plateforme d'analyse de dégradation.
Une autre étude de cas pour cette même plateforme portait sur une analyse de dérive des valeurs de test de durée de vie opérationnelle à haute température (HTOL). Initialement réalisé sur 2 000 heures, le test a ensuite été demandé pour une durée d'environ 4 000 heures. L'analyse de la dégradation de la plateforme a permis d'éviter un test supplémentaire coûteux : elle a identifié plusieurs familles de courbes parmi les 1 200 tests et a permis de prédire celles pour lesquelles la dérive à 4 000 heures était susceptible d'être supérieure à 10 %, valeur maximale admissible.
