Tony Cooper, PhD, consultant analytique principal, SAS
Sam Edgemon, consultant technique principal, SAS
La fabrication de plaquettes de semi-conducteurs et les MMT (machines de mesure tridimensionnelle) fournissent de nombreuses mesures pour une même pièce. Le comptage des défauts est un autre exemple de mesures répétées au sein d'une unité. Ces données incluent la localisation au sein de l'unité. La modélisation utilisant les informations spatiales peut s'avérer complexe, mais elles doivent toujours être utilisées pour la visualisation. Les informations potentielles fournies par ces données incluent : « L'unité actuelle est-elle similaire aux unités récentes ? » et « Où se concentrent les opportunités au sein de l'unité ? » Ces données peuvent être analysées et visualisées à l'aide de l'analyse en composantes principales (ACP), des cartes de contrôle multivariées et du clustering. Plus important encore, les données seront visualisées à l'aide de cartes personnalisées dans JMP. Plusieurs arrangements de données seront nécessaires pour que l'analyse soit efficace : fractionnement des données pour l'ACP et le clustering, mais aussi fusion des informations de clustering avec la vue empilée d'origine. Cette présentation décrit une méthodologie simplifiée grâce aux scripts JMP permettant d'indiquer des périodes de traitement similaires sur une carte de contrôle, puis de cartographier les informations au sein de la pièce pendant chacune de ces périodes.
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