使用 JMP 軟體識別異常工具和過程狀態漂移...使用 JMP 軟體視覺化和分析技術識別異常工具和流程狀態漂移
吉姆·尼爾森，工程資料專家 – 飛思卡爾半導體
積體電路（電腦晶片）的製造需要數百個非常精確的步驟。這些步驟中使用了數百種不同的設備。製程漂移和產量下降是半導體產業令人擔心的現實問題。確定哪些製程步驟和/或工具或工具組合導致了製程漂移或產量下降是一個耗時且複雜的過程，佔據了飛思卡爾工程師大量的時間。 JMP 軟體提供的分析工具、飛思卡爾開發的統計方法以及飛思卡爾開發的分析和視覺化 JMP 腳本相結合用於解決這些問題。本文介紹了分區的使用、飛思卡爾開發的方法、步驟漂移起源分析 (SODA) 以及兩個飛思卡爾開發的 JMP 軟體腳本。該腳本允許根據統計評估對圖表和圖形進行排序，並能夠快速地從一個圖表移動到另一個圖表。該方法可以將分析指導與工具進行非常積極的結合，這些工具可以為工程師提供視覺證據，以匹配他們的知識和經驗，幫助他們做出決策，確定需要做什麼來使流程重新回到正軌。
