Identificazione di strumenti non autorizzati e deriva dello stato del processo mediante l'utilizzo di tecniche di visualizzazione e analisi del software JMP
Italiano:Specialista dei dati di ingegneria – Freescale Semiconductor
La realizzazione di circuiti integrati (chip per computer) richiede centinaia di serie di passaggi molto esigenti. Centinaia di diverse apparecchiature vengono utilizzate in tali passaggi. Deriva di processo e cali di rendimento sono un fatto temuto della vita nel settore dei semiconduttori. L'identificazione di quali passaggi di processo e/o strumenti o combinazioni di strumenti hanno contribuito alla deriva di processo o al calo di rendimento è un processo lungo e complesso, che occupa una notevole quantità di tempo degli ingegneri in Freescale. Una combinazione di strumenti analitici forniti dal software JMP, metodologie statistiche sviluppate da Freescale e script JMP analitici e di visualizzazione sviluppati da Freescale vengono utilizzati per risolvere questi problemi. Questo documento descrive l'uso del partizionamento, una metodologia sviluppata da Freescale, Step Origin of a Drift Analysis (SODA) e due script software JMP sviluppati da Freescale. Gli script consentono di ordinare grafici e diagrammi in base alla valutazione statistica insieme alla capacità di passare da un diagramma all'altro molto rapidamente. Questa metodologia consente una combinazione molto positiva di guida analitica, abbinata a strumenti che forniscono agli ingegneri prove visive che mettono in relazione le loro conoscenze ed esperienze nel prendere decisioni su cosa deve essere fatto per riportare i processi in linea.
