JMP® によるクエリと分析を使用したエンジニアリング DB への MES、SPC、テスト データの統合... JMP® によるクエリと分析によるエンジニアリング DB への MES、SPC、テスト データの統合: 2 つのケース
Michael Clayton、JMP 分析向けファクトリー システム データ統合、Clayton Consulting
製造データの統合は、高速ロードと高速アンロード（分析のためのクエリ）が可能なデータベースにデータを保存したい場合、非常に詳細で、時間がかかり、費用のかかるプロセスです。したがって、チームには、プロセス、テスト、製造、CIM、IT のエンジニア、および必要に応じて DBA の問題、古い機器のバイナリ デコーダー、テスト データの精度とスケーリングに関する決定、およびマシンからのセンサー ベースのデータのサンプリング レートに関する統計的決定のために外部の専門家を含める必要があります。
