Nivel: Intermedio
Laura Lancaster, JMP, Estadística principal de investigación y desarrolladora, SAS
Jianfeng Ding, JMP Desarrollador estadístico de investigación sénior, SAS
En la era del big data y la fabricación compleja, a menudo existe una enorme cantidad de datos de procesos que requieren monitorización y análisis para mantener o mejorar la calidad. JMP cuenta con diversas herramientas que ayudan al analista a ampliar la monitorización de procesos de forma rápida y eficiente. La plataforma Process Screening permite a los usuarios analizar fácilmente la estabilidad y la capacidad de los procesos, lo que les permite centrarse en los procesos que necesitan mejoras. Inicialmente, la plataforma genera un informe resumido basado en cálculos de diagramas de control, capacidad y estabilidad, y crea varios gráficos para una rápida evaluación visual del estado del proceso. Con base en estos resultados iniciales, es fácil seleccionar los procesos que requieren atención y explorarlos en profundidad con Control Chart Builder y Process Capability. La plataforma Model Driven Multivariate Control Chart (MDMCC), nueva en JMP 15, permite a los usuarios monitorizar grandes cantidades de procesos altamente correlacionados. Esta plataforma se puede utilizar junto con las plataformas PCA y PLS para monitorizar la variación multivariante de los procesos a lo largo del tiempo, emitir alertas anticipadas sobre cambios en el proceso y sugerir posibles causas de los cambios. Utilizaremos casos prácticos para demostrar cómo usar JMP para monitorizar y analizar numerosos procesos y lograr una mejora rápida y eficiente.
