Niveau: Mittelstufe
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Jianfeng Ding, JMP Senior Research Statistician Developer, SAS
Im Zeitalter von Big Data und komplexer Fertigung fallen oft enorme Mengen an Prozessdaten an, die überwacht und analysiert werden müssen, um die Qualität zu erhalten oder zu verbessern. JMP bietet verschiedene Tools, die Analysten dabei unterstützen, den Umfang der Prozessüberwachung schnell und effizient zu erweitern. Die Plattform „Process Screening“ ermöglicht es Anwendern, Prozesse einfach auf Stabilität und Leistungsfähigkeit zu prüfen und sich so auf verbesserungsbedürftige Prozesse zu konzentrieren. Die Plattform erstellt zunächst einen zusammenfassenden Bericht basierend auf Regelkarten-, Leistungsfähigkeits- und Stabilitätsberechnungen und erstellt mehrere Diagramme zur schnellen visuellen Beurteilung des Prozesszustands. Basierend auf diesen ersten Ergebnissen können die Prozesse, die Aufmerksamkeit erfordern, einfach ausgewählt und mit dem „Control Chart Builder“ und der „Process Capability“-Funktion detaillierter untersucht werden. Die in JMP 15 neu eingeführte Plattform „Model Driven Multivariate Control Chart“ (MDMCC) ermöglicht Anwendern die Überwachung großer Mengen stark korrelierter Prozesse. Diese Plattform kann in Verbindung mit den Plattformen „PCA“ und „PLS“ eingesetzt werden, um multivariate Prozessvariationen im Zeitverlauf zu überwachen, frühzeitig vor Prozessverschiebungen zu warnen und mögliche Ursachen für Prozessänderungen aufzuzeigen. Anhand von Fallstudien demonstrieren wir, wie sich mit JMP zahlreiche Prozesse überwachen und analysieren lassen, um schnelle und effiziente Verbesserungen zu erzielen.
