等級：中級Annie Dudley Zangi，JMP 資深研究統計開發人員，SAS Tonya Mauldin，JMP 資深分析軟體測試員，SAS累積和控製圖或 CUSUM 控製圖被證實比 Shewhart 圖更能有效地偵測微小變化。但是，CUSUM 圖中 V-mask 的解釋比傳統控製圖更具挑戰性。在本次演講中，我們將透過範例來說明新的 CUSUM 圖表如何偵測 Shewhart 圖表中無法偵測到的平均值的細微變化。我們還將預覽新的 CUSUM 控制圖平台選項，並將圖表效率與平均運行長度進行比較。
