级别：中级Annie Dudley Zangi，JMP 高级研究统计开发人员，SAS Tonya Mauldin，JMP 高级分析软件测试员，SAS累积和控制图或 CUSUM 控制图在检测微小偏移方面比 Shewhart 图更有效，这一点已得到公认。但是，CUSUM 图中 V 形掩模的解释可能比传统控制图中的 V 形掩模更具挑战性。在本次演讲中，我们将提供一些示例，说明新的 CUSUM 图如何检测出 Shewhart 图无法检测到的均值微小偏移。我们还将预览新的 CUSUM 控制图平台选项，并将图表效率与平均运行长度进行比较。
