Niveau: Mittelstufe
Annie Dudley Zangi, JMP Senior Research Statistician Developer, SAS
Tonya Mauldin, JMP Senior Analytics Software Tester, SAS
Kumulative Summen- oder CUSUM-Kontrollkarten sind nachweislich effizienter bei der Erkennung kleiner Abweichungen als Shewhart-Diagramme. Die V-Maske in CUSUM-Diagrammen kann jedoch schwieriger zu interpretieren sein als in herkömmlichen Kontrollkarten. In diesem Vortrag präsentieren wir Beispiele, die veranschaulichen, wie die neuen CUSUM-Diagramme kleine Mittelwertabweichungen erkennen können, die in Shewhart-Diagrammen nicht erkennbar sind. Wir stellen außerdem die neuen Plattformoptionen für CUSUM-Kontrollkarten vor und vergleichen die Diagrammeffizienz mit durchschnittlichen Lauflängen.
