Niveau: Mittelstufe
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Jianfeng Ding, JMP Senior Research Statistician Developer, SAS
Annie Dudley Zangi, JMP Senior Research Statistician Developer, SAS
JMP verfügt über mehrere neue Qualitätsplattformen und -funktionen – modernisierte Prozessfähigkeit in Distribution, CUSUM-Kontrollkarte und modellgesteuerte multivariate Kontrollkarte –, die Qualitätsanalysen einfacher und effektiver machen als je zuvor. Die bewährte Distribution-Plattform wurde für JMP 15 mit einem moderneren und funktionsreicheren Prozessfähigkeitsbericht aktualisiert, der jetzt den Fähigkeitsberichten in Process Capability und Control Chart Builder entspricht. Wir zeigen, wie die neuen Prozessfähigkeitsfunktionen in Distribution die Fähigkeitsanalyse mit einem integrierten Ansatz zur Prozessverbesserung vereinfachen. Die CUSUM-Kontrollkartenplattform wurde entwickelt, um Benutzern das Erkennen kleiner Veränderungen in ihrem Prozess im Zeitverlauf zu erleichtern, wie z. B. allmähliche Drift, bei denen Shewhart-Diagramme weniger effektiv sein können. Wir zeigen, wie die CUSUM-Kontrollkartenplattform verwendet wird und wie die durchschnittliche Lauflänge zur Bewertung der Diagrammleistung verwendet wird. Die modellgesteuerte multivariate Kontrollkartenplattform (MDMCC), neu in JMP 15, wurde für Benutzer entwickelt, die große Mengen stark korrelierter Prozessvariablen überwachen. Wir zeigen, wie MDMCC in Verbindung mit den PCA- und PLS-Plattformen verwendet werden kann, um multivariate Prozessvariationen im Zeitverlauf zu überwachen, frühzeitig vor Prozessverschiebungen zu warnen und wahrscheinliche Ursachen für Prozessänderungen vorzuschlagen.
