일본 고어 주식회사 Statistician 가와구치 마사히코
제품의 품질을 높은 신뢰도로 보증하기 위해서는 계측기의 정밀도를 충분히 파악해 둘 필요가 있다. 측정 정밀도 평가라고 하면, Gauge R&R이 대표적인 수법이지만, 당사에서는 Donald J. Wheeler 박사가 제창하고 있는 EMP법을 표준적인 방법으로서 사용하고 있다.
JMP에서는 version 10부터 MSA 플랫폼 안에서 EMP법을 지원하고 있어 Gauge R&R법과 함께 기본적인 해석을 할 수 있다. 그러나, 이들 대표적인 지표 중 일부는 측정하는 샘플에 크게 영향을 받는다. 또한 측정 정밀도 평가의 실험 계획은 총당 실험의 반복이 베이스가 된다. DOE 플랫폼의 맞춤 계획에서 계획을 수립 할 수 있지만 절차는 조금 복잡합니다. 이러한 문제를 해결하기 위해, 당사는 EMP의 계획과 해석을 엔지니어가 간단하게 실시하기 위한 애드인을 개발하여 사용하고 있다.
본 발표에서는, ①EMP법, Gauge R&R법에 의한 측정 정밀도 평가의 개요, ②JMP를 이용한 측정 정밀도 평가의 실험계획과 결과의 해석, ③그것을 엔지니어가 간단하게 실시하기 위한 애드인,의 3점에 대해 사례를 나누어 설명한다.
