Michael Crotty , JMP-Statistikautor, SAS
michael@jmp
Ein abdeckendes Array ermöglicht Softwaretestern das effiziente Testen von Interaktionen zwischen Komponenten eines Softwaresystems. Aufgrund externer Faktoren müssen manchmal bestimmte Interaktionsebenen in einen Testplan aufgenommen werden. Unser Testplan für die neue Plattform für destruktive Degradation in JMP 12 ist ein abdeckendes Array der Stärke 2, das die zusätzlich erforderlichen Durchläufe berücksichtigt. Diese Präsentation beginnt mit einer Demonstration der neuen Plattform für destruktive Degradation. Mit dieser Plattform können Sie modellieren, wie sich ein Produkt im Laufe der Zeit verschlechtert, wenn Sie es zur Messung der Antwortvariablen zerstören müssen. Anschließend stellen wir abdeckende Arrays und ihre Effizienzmetriken vor. Wir zeigen, wie Sie die Plattform für abdeckende Arrays in JMP Pro 12 nutzen können, um einen Testplan für die Plattform für destruktive Degradation zu entwickeln. Wir verwenden Äquivalenzpartitionierung, um die Anzahl der benötigten Testfälle zu reduzieren, und erweitern das Design anschließend manuell um die zusätzlich erforderlichen Interaktionen. Wir demonstrieren, wie JMP Effizienzmetriken für die verschiedenen Designs berechnet. Abschließend erläutern wir diese Metriken für das erweiterte Design.
