가장 빠른 테스트를 위한 요약 표웨이퍼 그룹이 두 번 이상 테스트된 일부 데이터에 대한 요약 표를 만들고 있습니다. 특정 매개변수가 측정된 테스트 반복에 대한 데이터가 지저분합니다. 최종 표에서 각 웨이퍼/다이에 대한 테스트의 가장 빠른 인스턴스만 기록하기를 원합니다. 표에 하위 그룹으로 사용할 수 있는 재테스트 반복 열이 있지만 가장 빠른 것으로 축소하는 데 사용하는 방법을 모르겠습니다. 아래 이미지는 4번 테스트한 웨이퍼/다이 조합을 보여줍니다. 관심 있는 매개변수는 일부의 경우 반복 2와 3에서 테스트되었고 다른 경우 반복 3과 4에서 테스트되었습니다.
자동화 및 스크립팅Re: 가장 빠른 테스트를 위한 요약 표예시 데이터 세트를 제공해 주시겠습니까? 아마도 각 매개변수에 대한 테스트 수를 계산한 다음 모든 매개변수에서 1개를 선택할 수 있을 것입니다.
Re: 가장 빠른 테스트를 위한 요약 표이 데이터 테이블이 주어지면
이 공식을 사용하면
mat = Matrix( :age ) || Matrix( :height ) || Matrix( :weight );
mat[Loc( mat )[1]];
결과가 있어요
Re: 가장 빠른 테스트를 위한 요약 표추가된 열을 사용해서 작동하도록 했습니다.
New Column( "Initial LRS2",
Numeric,
"Continuous",
Format( "Best", 12 ),
Formula(
If(
!Is Missing( :LRS2 ) & :RETEST ==
Col Minimum( :RETEST, :WAFER, :sitex, :sitey ),
:LRS2
)
)
);
Re: 가장 빠른 테스트를 위한 요약 표안녕,
바로 사용할 수 있는 솔루션을 찾고 있다면 스크립팅 없이 가장 빠른 테스트(또는 유사한 작업)를 추출하는 방법을 보여주는 YieldOptiX의 재테스트 알고리즘에 대한 짧은 튜토리얼이 있습니다.
https://www.youtube.com/watch?v=cv8SBoM15W4
그 접근 방식이 시간을 절약할 수 있을지도 모른다는 생각에 공유해 보려고 합니다.
