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Tabella riassuntiva per il test più precoce

Sto creando una tabella riassuntiva per alcuni dati in base ai quali un gruppo di wafer è stato testato più di una volta. I dati sono disordinati per quanto riguarda l'iterazione del test in cui è stato misurato un parametro particolare. Voglio che la tabella definitiva registri solo la prima istanza del test per ogni wafer/die. Ho una colonna di iterazione di retest nella tabella che posso usare come sottogruppo nella tabella, ma non so come usarla per fare il collasso al primo. L'immagine qui sotto mostra una combinazione wafer/die che è stata testata 4 volte. Il parametro di interesse è stato testato all'iterazione 2 e 3 per alcuni e all'iterazione 3 e 4 per un altro.

Automazione e scriptingRe: Tabella riassuntiva per il test più precoce

Puoi fornire un set di dati di esempio? Molto probabilmente puoi calcolare il conteggio dei test per ogni parametro e poi sceglierne 1 da tutti i parametri

Re: Tabella riassuntiva per il test più precoce

Data questa tabella di dati

Utilizzando questa formula

mat = Matrix( :age ) || Matrix( :height ) || Matrix( :weight );
mat[Loc( mat )[1]];

ha i risultati

Re: Tabella riassuntiva per il test più precoce

Sono riuscito a farlo funzionare aggiungendo delle colonne.

New Column( "Initial LRS2",
	Numeric,
	"Continuous",
	Format( "Best", 12 ),
	Formula(
		If(
			!Is Missing( :LRS2 ) & :RETEST ==
			Col Minimum( :RETEST, :WAFER, :sitex, :sitey ),
			:LRS2
		)
	)
);

Re: Tabella riassuntiva per il test più recente

CIAO,
Se stai cercando una soluzione pronta all'uso, c'è un breve tutorial sull'algoritmo di ritest di YieldOptiX che mostra come estrarre il test più vecchio (o operazioni simili) senza script

https://www.youtube.com/watch?v=cv8SBoM15W4

Ho pensato di condividerlo nel caso in cui questo approccio ti faccia risparmiare tempo