JMPのプロセススクリーニングプラットフォームの強化と拡張（2019-US-45MP-248）レベル: 中級
Vincent Faller 氏、Predictum Inc. シニア ソフトウェア エンジニア
カレン・ビアジーニ氏、KLA コーポレーション、統計学者
JMPアドインは、複雑な一連のタスクを日常的に実行する必要があるユーザーにとって非常に便利です。クライアントプロジェクトでこのようなユーザーを支援するため、私たちはJMPのプロセススクリーニングプラットフォームを拡張およびカスタマイズし、KLAの新製品開発アプリケーション向けに、より包括的なものにするという課題に直面しました。プロセススクリーニングプラットフォームはカスタマイズされ、いくつかの側面では簡素化され、他の側面では拡張されました。ユーザーは、選択した分析オプションをボタン1つですばやく起動してプロットすることができ、ドリルダウンしてLevey Jennings管理図、Cpk付きヒストグラム、カスタムP/T計算による変動チャートを表示できます。このカスタムドリルダウンビューに加えて、KLAは新しい方法でパラメータ間の視覚的なパターンを探すための新しい視覚化も提供しています。このプロジェクトにおける実装の主な課題は、行除外の自動再計算などのJMPのネイティブ機能を維持しながら、カスタマイズされた機能を確実にサポートすることでした。この講演では、JMP アドインについて、KLA の観点からその使用法と利点、および開発の観点からその設計と実装の洞察について説明します。
