Uso de la función EMP de JMP® con datos observacionales de experimentos diseñados: un enfoque Lean para el análisis de sistemas de medición
Stephen W. Czupryna, consultor, ObDOE
Todos sabemos que un buen Análisis del Sistema de Medición (ASM) es un prerrequisito para una experimentación de primer nivel, pero rara vez actuamos con base en este conocimiento. La situación económica actual nos obliga a hacer más con menos, por lo que escatimamos en el ASM. Un enfoque eficiente del ASM idealmente utilizaría datos que deben recopilarse para otro propósito (datos observacionales) en lugar de recopilar datos para su uso exclusivo en un ASM. JMP ha implementado el enfoque EMP de Donald Wheeler para el ASM, lo que nos permite hacer precisamente eso. Las mediciones repetidas realizadas en un experimento diseñado típico pueden utilizarse fácilmente para realizar una "verificación de validez" del sistema de medición y la calidad de los datos. Si la calidad de los datos es deficiente, estos datos pueden atribuirse a un ASM que indica la necesidad de mejora. Si la calidad de los datos es buena, cumple una doble función: como ASM y como experimento diseñado. En esta charla, les mostraré cómo realizar un análisis EMP utilizando los datos recopilados mediante un experimento diseñado.
