MSA 和 SPC：一些陷阱及其避免方法 ( 2019-EU-30MP-063 )等級：中級
職位職能：分析師/科學家/工程師
François Bergeret，Ippon Innovation 創辦人兼統計學家
首先，我們將示範 JMP 測量系統分析方法（不確定性計算和 R&R），以顯示某些指標的限制並提出解決方案。在第二部分中，我們將處理控製圖，展示在未遵守統計過程控制的通常假設時應避免的一些陷阱：正態性、獨立性、單一變異源，以及如何使用 JMP 務實地但統計地處理它們。我們還將討論該過程的能力方面。我們還將討論罕見事件控製圖。我們將闡述來自多個產業（製藥、微電子）的產業數據的所有主題。
