MSA と SPC: いくつかの落とし穴とその回避方法 ( 2019-EU-30MP-063 )レベル: 中級
職務: アナリスト / 科学者 / エンジニア
フランソワ・ベルジュレ氏、Ippon Innovation 創設者兼統計学者
まず、JMP の測定システム分析法 (不確実性計算と R&R) を実演し、特定の指標の限界を示し、解決策を提案します。第 2 部では、管理図を取り上げ、統計的プロセス管理の通常の仮定が守られていない場合に避けるべき落とし穴 (正規性、独立性、変動の単一ソース) を示し、JMP を使用してこれらを実用的かつ統計的に処理する方法を示します。プロセスの能力の側面についても説明します。また、まれなイベントの管理図についても説明します。いくつかの業界 (製薬、マイクロエレクトロニクス) の産業データに関するすべてのトピックを説明します。
