Livello: Intermedio
Funzione lavorativa: analista/scienziato/ingegnere
François Bergeret, Fondatore e Statistico, Ippon Innovation
Per prima cosa mostreremo i metodi JMP di analisi del sistema di misura (calcoli di incertezza e R&R) per mostrare i limiti di alcuni indicatori e proporre soluzioni. In una seconda parte, ci occuperemo delle carte di controllo, mostrando alcune insidie da evitare quando non vengono rispettate le consuete ipotesi del controllo statistico di processo: normalità, indipendenza, singola fonte di variazione e come trattarle in modo pragmatico ma statistico con JMP. Saranno inoltre discussi gli aspetti di capacità del processo. Discuteremo anche delle carte di controllo degli eventi rari. Illustreremo tutti gli argomenti sui dati industriali di diversi settori (farmaceutica, microelettronica).
