Niveau: Mittelstufe
Berufsfunktion: Analyst / Wissenschaftler / Ingenieur
François Bergeret, Gründer und Statistiker, Ippon Innovation
Zunächst demonstrieren wir JMP-Methoden zur Messsystemanalyse (Unsicherheitsberechnungen und R&R), um die Grenzen bestimmter Indikatoren aufzuzeigen und Lösungsansätze zu entwickeln. Im zweiten Teil beschäftigen wir uns mit Regelkarten und zeigen einige Fallstricke auf, die es zu vermeiden gilt, wenn die üblichen Annahmen der statistischen Prozesskontrolle nicht eingehalten werden: Normalität, Unabhängigkeit, einzelne Variationsquelle und wie man diese pragmatisch, aber statistisch mit JMP behandelt. Auch die Fähigkeitsaspekte des Prozesses werden diskutiert. Wir besprechen außerdem Regelkarten für seltene Ereignisse. Wir veranschaulichen alle Themen anhand von Industriedaten aus verschiedenen Branchen (Pharma, Mikroelektronik).
