Nivel: Intermedio
Donald McCormack, ingeniero de habilitación técnica de JMP, SAS
Hadley Myers, ingeniero de sistemas JMP, SAS
Christian Kaufmann, Científico Principal, Centro de Competencia de Película Delgada y Nanotecnología para Energía Fotovoltaica
Muhammad Saif Ullah, investigador del Instituto de Ciencia y Tecnología Nuclear de Pakistán
Tobias Bertram, investigador postdoctoral, PVcomB
Rutger Schlatmann, Profesor, Universidad de Ciencias Aplicadas
Los datos obtenidos en rangos de medición continuos suelen expresarse como conjuntos de estadísticas resumidas, sustitutos de relaciones continuas con valores reales. Los intentos de comprender procesos complejos mediante técnicas de modelado estándar que vinculan predictores y respuestas se ven complicados por la abstracción que generan estos sustitutos. Esto conlleva el riesgo de omitir características críticas e impide extraer conclusiones temporales o espectrales. Muchos ejemplos de este tipo se encuentran en la fabricación de semiconductores y dispositivos fotovoltaicos, donde los avances dependen en gran medida del conocimiento adquirido mediante técnicas de medición y metrología que implican un barrido continuo de cualquier fenómeno físico, como voltaje, longitud de onda, temperatura, profundidad de pulverización catódica, intensidad del campo magnético, ángulo de difracción, etc. El Explorador de Datos Funcionales de JMP Pro ofrece una solución que permite extraer escalares de datos continuos para utilizarlos en pasos de modelado posteriores que, de alguna manera, conservan el aspecto funcional de los datos. Esta presentación explora un caso práctico en el que se utilizó FDE en el estudio de dispositivos fotovoltaicos, revelando así información previamente desconocida que no se habría podido obtener con los métodos de análisis tradicionales.
