Livello: Intermedio
Donald McCormack, ingegnere di abilitazione tecnica JMP, SAS
Hadley Myers, ingegnere di sistema JMP, SAS
Christian Kaufmann, Responsabile scientifico, Competence Center Thin-Film e nanotecnologia per il fotovoltaico
Muhammad Saif Ullah, ricercatore, Pakistan Institute of Nuclear Science & Technology
Tobias Bertram, ricercatore post-dottorato, PVcomB
Rutger Schlatmann, Professore, Università di Scienze Applicate
I dati rilevati in intervalli di misurazione continui sono solitamente espressi come insiemi di statistiche riassuntive, surrogati di relazioni continue a valore reale. I tentativi di comprendere processi complessi tramite tecniche di modellazione standard che collegano predittori e risposte sono quindi complicati dall'astrazione causata da questi surrogati. Ciò rischia di omettere caratteristiche critiche e non lascia la possibilità di trarre conclusioni dipendenti dal tempo o dallo spettro. Molti di questi esempi si trovano nella produzione di semiconduttori e fotovoltaici, dove i progressi dipendono in larga misura dalle conoscenze acquisite da tecniche di misurazione e metrologia che comportano una scansione continua di qualsiasi fenomeno fisico, tra cui tensione, lunghezza d'onda, temperatura, profondità di sputtering, intensità del campo magnetico, angolo di diffrazione, ecc. Functional Data Explorer in JMP Pro offre una soluzione in cui gli scalari possono essere estratti da dati continui per essere utilizzati in fasi di modellazione successive che in qualche modo mantengono l'aspetto funzionale dei dati. Questa presentazione esplora un caso d'uso in cui FDE è stato utilizzato nello studio di dispositivi fotovoltaici, rivelando così informazioni che erano precedentemente sconosciute e che non avrebbero potuto essere scoperte utilizzando metodi di analisi tradizionali.
