對多個參數進行快速常態性檢驗你好，
我有很多參數（100〜2000），每個參數在樣本中有 200 到 2500 個值。我想對每一個進行統計測試來檢查分佈是否正常。
我的問題是它花了我很長時間（大約 6 分鐘）：我必須為每個參數運行分佈 > 擬合正態 > 擬合優度平台，並從 Anderson 檢定中檢索 p 值，例如，得出結論。
有沒有更快的方法？我希望盡可能避免使用 Python，因為我們有 JMP17，而且我們擔心當我們在 6 個月內切換到 MP19 時，遷移程式碼的成本會很高，因為它變化很大。
此致，
自動化和腳本回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗您使用過 JSL 來做這件事嗎？您可以提供您使用過的腳本的範例嗎？可以進行一些優化使其更快，這可能已經足夠了。
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗你好@SophieCuvillier ，
您是否嘗試過按住右鍵單擊然後使用紅色三角形在所有單獨的分佈中廣播命令？然後您可以使用它右鍵單擊 anderson darling 表並“製作組合資料表”。
謝謝，
本
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗你好，本
謝謝你的回答。好吧，我想在腳本中做到這一點，因為這是我們想要在插件中合併的分析...
此致
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗不幸的是，當您使用 JMP17 時它沒有幫助，但我發布了一個使用 python 來執行您正在尋找的操作的 JSL 腳本（我認為）。希望當您轉到 JMP 18/19 時它會有所幫助。
https://community.jmp.com/t5/JMP-Scripts/Comparative-normality-testing-on-many-parameters-or-groups-of/ta-p/773837
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗你好@SophieCuvillier ，
明白了，我已經嘗試為您整理了一些東西，它將在腳本中運行組合數據表 - 這是一個有趣的挑戰，讓平台將所有列運行到一個視窗中，而不是每列單獨的視窗中。
請讓我知道這對您有何作用。
//Random Column Generator v1 - Inspired by https://www.linkedin.com/feed/update/urn:li:activity:7241062805292929025/
//Get current data table, clear previous selections
dt = CurrentDataTable();
Names Default to Here(1);
dt << Clear Column Selection();
//Launch dialog for columns - adapted from https://community.jmp.com/t5/JMPer-Cable/Prompting-for-columns-totally-modally/ba-p/189647
nw = New Window( "Launch Dialog",
<<MODAL></MODAL>回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗
@matth1寫道：
不幸的是，當您使用 JMP17 時它沒有幫助，但我發布了一個使用 python 來執行您正在尋找的操作的 JSL 腳本（我認為）。希望當您轉到 JMP 18/19 時它會有所幫助。
@SophieCuvillier實際上我忘記我已經創建了這個腳本的非 Python 版本 - 我之所以進行更改只是因為 Python 版本對於處理大量資料來說速度更快。
請參閱附件，希望對您有幫助。請注意，第 107 行以下的所有內容僅用於建立結果顯示視窗 - 如果您想要的只是比較 p 值的表格，請隨意刪除程式碼。
我只有 JMP 18 可以嘗試，但 v17 應該沒問題。
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗不知道為什麼，很遺憾沒有看到常態性檢定的結果，沒有輸出，也許是我的JMP版本太低了（V14.3）。我會嘗試使用更高的版本。
能不能把它做成jmpaddin文件，這樣可以更好的使用。
我希望只看到常態性檢定的結果，而不需要能力分析。
這張圖是MINITAB的結果。你能讓它看起來像這樣嗎？
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗您可以透過堆疊資料並使用「以 Y 擬合 X」平台來建立比較多個參數的常態分位數圖。例如，看下面的簡單程式碼：
看更多...
dt = open( "$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp" );
dt_stack = dt << Stack(
columns( :PNP1, :PNP2, :NPN2, :PNP3 ),
"Non-stacked columns"n( Keep( :lot_id, :wafer, :Wafer ID in lot ID, :SITE ) ),
Output Table( "Stack" )
);
dt_stack << Color or Mark by Column(
:Label,
Color Theme( "JMP Default" ),
Marker( 0 )
);
ow = dt_stack << Oneway(
Y( :Data ),
X( :Label ),
All Graphs( 0 ),
Line of Fit( 1 ),
Plot Quantile by Actual( 1 )
);
然後，您可以建立自訂窗口，並將前一個腳本中的 AD 結果表作為報告包含在正常分位數圖旁邊。如果您對腳本感到滿意，那麼這可能會有所幫助：
https://www.jmp.com/support/help/en/18.1/#page/jmp/construct-display-boxes-for-new-windows.shtml
回覆：對多個參數進行快速常態性檢驗你好，
最後我使用了@matth1和@Ben_BarrIngh提供的腳本（非常感謝！！）。為了提高速度，我們考慮對每個參數隨機取一個子樣本，而不是取總樣本。
