Die Weiterentwicklung des Control Chart Builder für JMP ® 11
Tonya Mauldin, Senior Analytics Software Tester, SAS
Annie Dudley Zangi, Entwicklerin für Forschungsstatistik, SAS
Der Kontrollkarten-Generator wurde in JMP 10 als Tool eingeführt, das eine Drag-and-Drop-Umgebung mit den analytischen Aspekten traditioneller Kontrollkarten kombiniert. In JMP 10 konnte der Kontrollkarten-Generator viele Diagrammtypen modellieren, darunter Einzel-, Durchschnitts-, gleitende Spannweiten-, Spannweiten-, Standardabweichungs- und Dreiwegdiagramme. In JMP 11 führen wir Attribut- und seltene Ereignisdiagramme ein, die alle auf diskreten Verteilungen, Binomial-, negativen Binomial- oder Poisson-Verteilungen basieren. Mit JMP 11 fassen die Attributdiagramme automatisch Rohdaten – zum Beispiel Bestanden/Nicht Bestanden-Daten – zusammen, die direkt aus dem Bewertungssystem stammen. Für mehrstufige Daten, wie z. B. Umfrageantwortdaten, bietet die Plattform eine Schnittstelle zum Ändern von Auswahlen, um das Diagramm in Echtzeit zu modellieren und zu aktualisieren. In dieser Sitzung werden neue Funktionen des Kontrollkarten-Generators besprochen und demonstriert, darunter Attributdiagramme, seltene Ereignisdiagramme, die Handhabung von Umfragedaten und die Zusammenfassung von Daten für Präsentation und Kontrolle.
