Análisis de distribución multimodal
Descubra fuentes de variabilidad ocultas en distribuciones de densidad mediante la capacidad de creación de scripts de JMP
Abstracto
En una fábrica de semiconductores se recopilan varias mediciones eléctricas en diferentes obleas de silicio. Las distribuciones asociadas suelen ser normales, aunque no siempre es así. Con frecuencia, estas distribuciones presentan múltiples modos debido a cambios en los procesos, desviaciones o desplazamientos de las herramientas. El objetivo es identificar automáticamente los múltiples modos subyacentes, minimizando así el ruido.
Autores
Antonio D. D'Angelo, Felice Russo
Compañía
Lfoundry srl
