Laura Lancaster , PhD, JMP, leitende Forschungsstatistikerin und Entwicklerin, SAS
Chris Gotwalt , PhD, JMP, Direktor für statistische Forschung und Entwicklung, SAS
Die Qualitätswerkzeuge der zweiten Generation in JMP – Kontrollkarten-Generator, Messsystemanalyse und Prozessfähigkeitsanalyse – wurden nach einem integrativen Ansatz entwickelt, um Qualitätsanalysen einfacher und effektiver zu gestalten. So ermöglicht beispielsweise der Shift Detection Profiler in der Messsystemanalyse-Plattform Qualitätsingenieuren fundierte Entscheidungen zur Gestaltung ihrer Kontrollkartenmethodik unter Berücksichtigung ihres Messsystems, sodass sie schnellstmöglich über Prozessänderungen informiert werden. Ebenso wurde die neue Prozessfähigkeitsplattform in JMP 12 so konzipiert, dass sie den im statistischen Prozesskontrollprogramm verwendeten Kontrollkartentyp widerspiegelt, und dem Kontrollkarten-Generator wurde ein Fähigkeitsbericht hinzugefügt. Zu verstehen, wie Ihr Messsystem, Ihr statistisches Prozesskontrollprogramm und Ihre Prozessfähigkeitsbewertungen zusammenpassen, ist der Schlüssel zur Verbesserung und Aufrechterhaltung der Qualität. Die einzigartige Designphilosophie der Software macht dies einfach und unkompliziert. Dieser integrative Ansatz zur Prozessverbesserung wird anhand einer Fertigungsstudie unter Verwendung der Qualitätswerkzeuge in JMP 12 demonstriert.
