Visuelle Toleranzanalyse zur technischen Optimierung
Zhou Wei,MS, JMP, Hauptberater – SAS Institute (Beijing) Co. Ltd.
Klassische Methoden der Versuchsplanung (DOE) finden breite Anwendung in Design, Fertigung, Qualitätsmanagement usw. Dies ist jedoch nicht das Ende der DOE-Praxis. Ein Nachteil ist die Vernachlässigung der Fehlerausbreitung. Das bedeutet, dass der sogenannte „verbesserte Prozess“ weiterhin kontinuierlich Fehler produziert. Die visuelle Toleranzanalyse (VTA) ist eine gute Möglichkeit, dieses Hindernis zu überwinden und ergänzt die klassische DOE effektiv, um die letztendliche, praktikable Lösung zu perfektionieren. Zunächst werden in diesem Artikel Hintergrund und Studienwert der VTA kurz vorgestellt. Anschließend wird die VTA mit den beiden neuen Visualisierungstechniken „Defect Profiler“ und „Defect Parametric Profile“ beleuchtet. Mithilfe der VTA können Ingenieure und Statistiker gemeinsam herausfinden, welche Schlüsselfaktoren zur Fehlerausbreitung führen und wie diese signifikant und kostengünstig reduziert werden können. Um die Analyseeffizienz für Statistiker zu verbessern und das Verständnis für Nicht-Statistiker zu erleichtern, wird zusätzlich ein Beispiel mit der JMP-Software erläutert, um die Leistungsfähigkeit dieses boomenden technischen Optimierungsansatzes in der DOE-Familie zu veranschaulichen.
