요인 포함 배열을 사용한 효과적인 테스트 설계Melanie Drake, SAS의 JMP 수석 개발 테스터
JMP는 DOE 메뉴에 새로운 플랫폼인 커버링 배열(Covering Array)을 제공합니다. 요인 커버링 배열은 상호작용이 많은 복잡한 시스템의 테스트 커버리지를 설계하는 강력한 도구입니다. 커버링 배열을 사용하면 최적의 테스트 케이스와 커버리지를 생성하고 위험을 최소화할 수 있습니다. 커버링 배열을 설계하기 전에 어떤 요인이 중요하고 어떤 종류의 상호작용이 가장 큰 위험을 포함하는지 파악하는 것이 중요합니다. 본 논문에서는 커버링 배열을 활용하여 시스템의 위험 수준을 최소화하고 결함 발견 가능성을 극대화하는 테스트를 설계하는 방법을 논의합니다. 또한 커버링 배열을 사용한 테스트 설계의 예시도 살펴보겠습니다.
