요인 커버링 배열을 사용한 효과적인 테스트 설계Melanie Drake, JMP 수석 개발 테스터, SAS
JMP는 DOE 메뉴 아래에 새로운 플랫폼인 Covering Array를 제공합니다. 팩터 커버링 어레이는 많은 상호작용이 있는 복잡한 시스템에 대한 테스트 커버리지를 설계하는 강력한 도구입니다. 커버링 어레이를 사용하여 최적의 테스트 케이스와 커버리지를 만들고 위험을 최소화할 수 있습니다. 커버링 어레이를 설계하기 전에 어떤 팩터가 중요하고 어떤 종류의 상호작용에 가장 많은 위험이 포함되어 있는지 아는 것이 중요합니다. 이 논문에서는 커버링 어레이를 활용하여 시스템의 위험 수준을 최소화하고 결함을 찾을 가능성을 최대화하는 테스트를 설계하는 방법에 대해 설명합니다. 또한 커버링 어레이를 사용한 테스트 설계의 예를 살펴보겠습니다.
