Definir-Medir-Analizar-Mejorar-Controlar es una metodología Six Sigma que se utiliza para avanzar metódicamente por las cinco etapas para encontrar una solución a los problemas de procesamiento en el ensamblaje de chips semiconductores. En cada etapa, se recopilan datos y se utiliza JMP para describirlos y obtener inferencias sobre la eficacia de las acciones y los factores para avanzar las tendencias de rendimiento hacia un objetivo.
La etapa Definir, con contribuciones clave en la Carta del Proyecto, cuenta con la ayuda de JMP Graph Builder para producir gráficos de series de tiempo y gráficos de barras que explican la necesidad de avanzar hacia un objetivo SMART.
En JMP, los diagramas de Pareto, la linealidad y el sesgo, la medición R&R y el análisis de la capacidad del proceso son las principales herramientas utilizadas en la etapa de medición. Se seleccionan tamaños de muestreo adecuados para cumplir con los niveles de confianza de los resultados esperados.
Las pruebas de hipótesis, tanto de proporciones como de medias para distribuciones paramétricas y no paramétricas, son las principales herramientas utilizadas en la etapa de análisis. La igualdad de varianzas ayuda a comprender la robustez de un proceso.
JMP DOE es la herramienta principal utilizada en la etapa de mejora, con gráficos de series de tiempo utilizados para monitorear los primeros lotes piloto de corto plazo.
Finalmente, los gráficos de control JMP se utilizan para monitorear las tendencias después de lanzar las mejoras del proceso.
