Definizione-misura-analisi-miglioramento-controllo è una metodologia Six Sigma utilizzata per muoversi metodicamente attraverso le cinque fasi per trovare una soluzione ai problemi di elaborazione nell'assemblaggio del back-end dei chip semiconduttori. In ogni fase, i dati vengono raccolti e JMP viene utilizzato per descrivere i dati e fornire inferenze verso l'efficacia delle azioni e dei fattori per spostare i trend di rendimento verso un obiettivo.
La fase di definizione, con contributi chiave nel Project Charter, è supportata da JMP Graph Builder per produrre grafici di serie temporali e grafici a barre che spiegano la necessità di procedere verso un obiettivo SMART.
In JMP, i grafici di Pareto, la linearità e la distorsione, Gauge R&R e l'analisi della capacità di processo sono i principali strumenti utilizzati nella fase di Misurazione. Le dimensioni di campionamento idonee vengono selezionate per corrispondere ai livelli di confidenza dei risultati attesi.
I test di ipotesi, sia in proporzioni che in medie per distribuzioni parametriche e non parametriche, sono gli strumenti principali utilizzati nella fase di analisi. L'uguaglianza della varianza aiuta a comprendere la robustezza di un processo.
JMP DOE è lo strumento principale utilizzato nella fase di miglioramento, con grafici delle serie temporali utilizzati per monitorare i primi lotti pilota a breve termine.
Infine, i grafici di controllo JMP vengono utilizzati per monitorare le tendenze dopo l'avvio dei miglioramenti dei processi.
