Definieren-Messen-Analysieren-Verbessern-Kontrollieren ist eine Six-Sigma-Methode, die systematisch fünf Phasen durchläuft, um eine Lösung für Verarbeitungsprobleme in der Back-End-Montage von Halbleiterchips zu finden. In jeder Phase werden Daten gesammelt und mithilfe von JMP beschrieben. So lassen sich Rückschlüsse auf die Wirksamkeit von Maßnahmen und Faktoren ziehen, um die Ertragstrends einem Ziel näher zu bringen.
Die Definitionsphase mit wichtigen Beiträgen zur Projektcharta wird durch JMP Graph Builder unterstützt, um Zeitreihendiagramme und Balkendiagramme zu erstellen, die die Notwendigkeit der Annäherung an ein SMART-Ziel verdeutlichen.
In JMP sind Pareto-Diagramme, Linearitäts- und Bias-Analyse, Gauge R&R und Prozessfähigkeitsanalyse die wichtigsten Werkzeuge in der Messphase. Geeignete Stichprobenumfänge werden entsprechend den Konfidenzniveaus der erwarteten Ergebnisse ausgewählt.
Hypothesentests, sowohl hinsichtlich der Proportionen als auch der Mittelwerte parametrischer und nichtparametrischer Verteilungen, sind die wichtigsten Werkzeuge in der Analysephase. Die Varianzgleichheit hilft, die Robustheit eines Prozesses zu verstehen.
JMP DOE ist das Haupttool in der Verbesserungsphase, wobei Zeitreihendiagramme zur Überwachung der ersten kurzfristigen Pilotchargen verwendet werden.
Schließlich werden JMP-Kontrollkarten verwendet, um die Trends nach der Einführung der Prozessverbesserungen zu überwachen.
