CPK - 2 維親愛的，
一個「概念性」問題…
如果我有一個由兩個因素確定的特性，並且規格限度由面積而不是間隔定義......是否可以計算 CPK？
參見下圖（發明）：藍點 = 規範，橙點 = 生產。
是否可以計算 CPK？
提前感謝您的回饋。
基礎資料分析與建模品質與工藝工程回覆：CPK-2 維嘿@SimonItaly ，
我也思考過這個問題！我沒有找到任何現成的東西，但我自己研究了一個可能的解決方案，儘管這只是一個有趣的副項目，並不正式。我所做的是擬合 Y 軸值的分佈，然後擬合 x 軸值的分佈。然後，我使用 Y 和 X 的最佳擬合隨機分佈模擬了一百萬個值。此方法的主要缺點是，如果超出規格的計算返回零，則會出現錯誤。但是，您可能只需要將模擬值從一百萬增加到至少一個超出規格的值。
雖然這不是一個正式的方法，但我發現它適合我的情況。希望它至少能激發一些想法！
史蒂夫
回覆：CPK-2 維由於您的問題本質上是“概念性的”，我想問您為什麼要計算 Cpk？您打算如何使用它？抱歉，我承認我的偏見是這樣的指標不是很有用。原因如下：
1. 計算中使用的計數統計數據是估計值，它們對真實總體的描述程度經常受到質疑（例如，使用了 30 個樣本，但沒有解釋樣本是如何獲得的）。當報告 Cpk 時，它們被報告為一個數字，儘管度量中使用的兩個統計數據顯然都存在置信區間。
2. 當 Cpk 未滿足您的目標時，您需要分解指標來確定它是平均值問題還是變化問題。為什麼不只是「追蹤」那些（平均值，偏離目標和標準差，最小化）？
3. Cpk 常被誤用做比較（例如，跨不同產品進行比較）
4. 在報告 Cpk 之前，穩定度建立的頻率是多少？
5. 規格通常不合適。
看：
Gunter, Berton (1989) “Cpk 的使用與濫用”， 《品質進步》 ，1989 年 1 月
您能否提供一個您所描述的情況的真實例子，其中“區域”有一個規範（客戶要求）？
如果我了解您所描述的情況，您能否先了解兩個因素與反應變數（面積）之間的關係，然後，也許使用公差平行四邊形（請參閱 Shainin），了解每個因素的適當規格，並獨立地對每個因素使用傳統的 Cpk？
回覆：CPK-2 維我個人的感覺不是CPK。而是對兩個指標進行綜合評估。
建議考慮二維權重，然後在降維後進行評估。或用最簡單的加權平均分析。
回覆：CPK-2 維你好，史蒂夫，
感謝您的回饋、經驗和建議。
這對於初步評估（“草案”）可能有用。
我可以利用一些功能（也在 JMP 中）對這個主題進行完整的模擬（現在我談論的是 2 個維度......但也可能需要更多的 2 個維度）。
再次感謝...我們希望 JMP 開發人員能夠考慮這項需求。
祝您本周有個愉快的開始。
此致，
西蒙尼
回覆：CPK-2 維親愛的斯塔曼，
感謝您的回饋和好的意見/建議。
在我的具體情況下，該物件由兩個變數（獨立）來表徵。
這兩個特徵的數值（同時）只能在我之前畫的橢圓區域內。
在測量中，我取了一些實際部分，並將這部分繪製在了圖表中。
目標是評估/估計（類似於 CPK 方法）有多少零件不符合規格（超出橢圓區域）。
我想像了一個類似 CPK 的概念……但卻是二維的。
我不知道我的想法是否正確。
再次感謝。
此致，
西蒙尼
回覆：CPK-2 維親愛的弗蘭克，
謝謝您的回饋（非常感謝）。
我的情況是這兩個變數是獨立的......我想透過從實際生產線收集的一些數據來「某種方式」評估/估計有多少零件可能超出「橢圓規範區域」。
我希望我的解釋能夠清楚。
再次感謝...祝您本周有一個愉快的開始。
此致，
西蒙尼
回覆：CPK-2 維如果您希望擁有此功能，請向JMP 願望清單建立願望清單項
回覆：CPK-2 維嘿@SimonItaly ，
以下是我按照上述方法編寫的腳本所獲得的輸出範例（我使用了半導體樣本資料集和 A1 列，從中提取了每個晶圓的最小值和最大值並製作了匯總表）：
此儀表板顯示類比資料（Sim）與真實資料（R）
如果預測超出規格 = 0%，則預測 Ppk = 2
僅供思考！
史蒂夫
回覆：CPK-2 維你好，史蒂夫，
謝謝分享。
非常有趣且是很好的資訊來源。
以我過去的經驗來說......我在半導體領域工作了 20 多年，您的案例研究非常清晰。
此致，
西蒙尼
